JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el desarrollo y lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico de barrido (SEM) de la serie JSM-IT510, en noviembre de 2021.
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JSM-IT510 (LA) (Photo: Business Wire)
Antecedentes del desarrollo del producto
Los microscopios electrónicos de barrido (scanning electron microscope, SEM) se utilizan en una amplia gama de campos, tales como la nanotecnología, los metales, los semiconductores, la cerámica, la medicina y la biología. Además, las aplicaciones de los SEM se están expandiendo no solo a la investigación básica, sino también al control de calidad en los centros de fabricación. Con esto, la demanda por adquisición de datos más rápida y sencilla de ambas, las imágenes SEM y los resultados de análisis, tales como espectros de espectroscopía de rayos X de dispersión de energía (EDS), está aumentando.
Para satisfacer estas necesidades y aumentar el rendimiento, hemos desarrollado la serie JSM-IT510, que desarrolla aún más la operatividad de nuestro popular InTouchScope™. Con la nueva función Simple SEM, ahora puede “dejar” su rutina diaria (operación repetitiva) al instrumento.
Características principales
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Nueva función “Simple SEM”
La función Simple SEM permite al usuario seleccionar simplemente las condiciones de adquisición y el campo de visión para la imagen SEM, y luego la imagen SEM se adquiere automáticamente. El trabajo de rutina se puede hacer más eficiente. -
Nuevo “Detector de Electrones Secundario Híbrido de Vacío Bajo (LHSED)”
Este nuevo detector recolecta señales de electrones y fotones proporcionando una imagen con alta S/N e información topográfica mejorada incluso bajo un vacío bajo. -
Integración del microscopio electrónico de barrido (SEM) y el sistema de espectrómetro de rayos X de dispersión de energía (EDS).
La integración de SEM y EDS se ha desarrollado aún más y la función Live Map permite la visualización en vivo del mapa elemental del campo de visión de observación. -
Nueva función “Live 3D”
Se pueden construir imágenes 3D en el lugar mientras se realiza la observación SEM para obtener información sobre desniveles y profundidad. -
Con nuestra “serie analítica” (función Live Analysis),
el sistema de detección de energía dispersiva (Energy Dispersive Spectrometer, EDS) integrado muestra un rango de EDS en tiempo real durante la observación de imágenes para un análisis elemental eficiente. -
Nueva función Stage Navigation System LS (Sistema de navegación por escenario LS)
El nuevo Stage Navigation System LS puede adquirir una imagen óptica de un área cuatro veces mayor que la de los modelos convencionales (200 mm x 200 mm). Esta función permite al usuario adquirir una imagen óptica de la muestra de observación y moverse al campo de observación deseado simplemente haciendo clic en la imagen óptica. -
Zeromag
Con nuestra función Zeromag, manejar muestras es aún más fácil que nunca. Puede localizar áreas para obtener imágenes o especificar posiciones de análisis en varios campos utilizando una imagen óptica o un gráfico de soporte. -
Visualización de la profundidad característica de generación de rayos X
Esto ayuda a comprender rápidamente la profundidad de análisis (referencia) de la muestra. -
SMILE VIEW™ Lab, que permite la gestión integrada de datos de imágenes y análisis.
Facilita la generación de informes para todos los datos, desde imágenes SEM recopiladas hasta resultados de análisis elementales.
Objetivo de ventas
200 unidades/año
URL del producto: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT510.html
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, presidente y director de operaciones
(Código de acción: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com
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